Sistem de testare a vieții intermitente IOL
Toate stațiile de testare ale sistemului sunt conectate în paralel pentru a asigura curenți de testare extrem de consistenți pentru fiecare canal. 8 canale de testare (o placă, o zonă) pentru GK-IOL-X8 și 16 canale de testare pentru GK-IOL-X16 sunt echipate cu capacități de testare de până la 384 și respectiv 768, ceea ce poate satisface sarcini de testare la diferite scări. Fiecare canal este echipat cu un set de sursă de alimentare programabilă independentă, care acceptă setări flexibile pentru TON/TOFF, VGS, IM, IDS, VDS, modul ventilator și alți parametri de testare bogați și toate stațiile de lucru acceptă detectarea TJ pentru a asigura exactitatea și fiabilitatea testării.
|
Sistem intermitent de testare a vieții |
||
|
Model de produs |
GK-IOL-X8 |
GK-IOL-X16 |
|
Domeniul de aplicare |
Potrivit pentru testarea de viață intermitentă și în stare constantă a diodelor SI/SIC, tranzistoare, MOSFET, IGBTS și alte dispozitive în diferite forme de ambalare. |
|
|
Caracteristici |
1, Măsurarea în timp real a temperaturii de joncțiune TJ a eșantionului în timpul experimentului și afișarea diferenței de temperatură a joncțiunii △ TJ; 2, adoptând designul modular, fiecare modul este o unitate de testare independentă. Fiecare modul are o cameră de testare independentă, obținând cu adevărat o independență completă între tablouri. Conductele de aer ale fiecărei unități de testare nu se afectează reciproc; 3, în modul de depanare, fie în stare de pornire sau oprire, temperatura de joncțiune TJ poate fi colectată în fiecare secundă, iar o curbă completă de schimbare a temperaturii poate fi trasă pentru a preveni deteriorarea dispozitivului atunci când căutați condiții de testare; 4, toate stațiile sunt conectate în paralel, iar curentul de testare rămâne consecvent; 5, echipat cu funcția de compensare VF; 6, funcția de montare a curbei, obțineți VF -ul corespunzător la momentul t =0, și calculați adevăratul tj |
|
|
Canal de testare |
8 (o placă, o zonă) |
16 (o placă, o zonă) |
|
Capacitatea de testare |
48×8=384 |
48×16=768 |
|
Funcție de bază |
①Each Channel oferă un set de surse de alimentare programabile independente; Parametri test (ton/toff, vgs, IM, IDS, VDS, modul fan); Susține detectarea TJ pentru toate stațiile de lucru; ③For diode și IGBTS, modul de serie este adoptat, iar intervalul curent de testare pentru fiecare stație de lucru este 0-20 a; Pentru MOS, este adoptată o conexiune paralelă, cu curent constant la fiecare stație de lucru; ④Each Channel oferă un set de surse de alimentare programabile independente; ⑤ Afișarea timpului de timp a parametrilor de îmbătrânire și reprezentarea curbelor de schimbare complete; ⑥ Timpul de judecată privind dacă limita este depășită, alarma pentru depășirea limitei și înregistrarea stației de depășire și depășirea timpului; |
|
|
Dimensiuni externe |
W1140mmхh1820mmхd1320mm |
W1620mmхh1820mmхd1320mm |
|
Greutate |
aproximativ 500 kg |
aproximativ 800 kg |
